IEC

IEC 60749-5(2023)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
17

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-5(2023)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-5(2017)
Дата опубликования
19.12.2023
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
17
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
3.0
Статус
Действует
Код цены
C