IEC

IEC 62047-43(2024)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 43. Метод определения электрических характеристик гибких микроэлектромеханических устройств после циклической деформации изгиба

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
18

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-43(2024)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 43. Метод определения электрических характеристик гибких микроэлектромеханических устройств после циклической деформации изгиба
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
19.03.2024
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
18
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E