IEC

IEC 62047-47(2024)

Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 47. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности микроструктур на изгиб

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
16

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-47(2024)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 47. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности микроструктур на изгиб
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
23.08.2024
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
16
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D