IEC

IEC 62047-45(2025)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 45. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения ударной прочности наноструктур

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
15

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-45(2025)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 45. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения ударной прочности наноструктур
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
20.03.2025
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
15
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D