IEC

IEC 60749-34-1(2025)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34-1. Испытание силового полупроводникового модуля на циклическое включение

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
56

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-34-1(2025)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34-1. Испытание силового полупроводникового модуля на циклическое включение
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
20.06.2025
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
56
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
G