IEC

IEC 60749-7(2025)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
12

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-7(2025)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-7(2011)
Дата опубликования
27.11.2025
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
12
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
3.0
Статус
Действует
Код цены
D