IEC

IEC 60749-22-1(2025)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22-1. Прочность соединения. Методы испытаний на разрыв проволочного соединения

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-1: Bond strength - Wire bond pull test methods

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
61

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-22-1(2025)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22-1. Прочность соединения. Методы испытаний на разрыв проволочного соединения
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-1: Bond strength - Wire bond pull test methods
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-22(2002)
Дата опубликования
26.11.2025
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
61
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
L