IEC

IEC 63616(2025)

Измерение проводимости тонких металлических пленок в микроволновом и миллиметровом диапазонах. Метод сбалансированного дискового резонатора

Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
26

Подробная информация

Обозначение
IEC 63616(2025)
Заглавие на русском языке
Измерение проводимости тонких металлических пленок в микроволновом и миллиметровом диапазонах. Метод сбалансированного дискового резонатора
Заглавие на английском языке
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method
МКС
17.220.20, 29.050
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
28.11.2025
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
26
ТК – разработчик стандарта
TC 46/SC 46F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D