IEC

IEC 60749-24(2025)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещения

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
9

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-24(2025)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещения
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-24(2004)
Дата опубликования
27.11.2025
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
9
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
C