IEC

IEC 62047-52(2026)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 52. Метод двухосного испытания на растяжение для растяжимых МЭМС-устройств

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
12

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-52(2026)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 52. Метод двухосного испытания на растяжение для растяжимых МЭМС-устройств
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
04.03.2026
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
12
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D