ISO

ISO 15470:2004

Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
12

Подробная информация

Обозначение
ISO 15470:2004
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Дата отмены
01.03.2017
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяющего
ISO 15470:2017
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 7
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
10.05.2004
Количество страниц оригинала
12
Код цены
A