ISO

ISO 14237:2000

Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
28

Подробная информация

Обозначение
ISO 14237:2000
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Дата отмены
09.07.2010
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяющего
ISO 14237:2010
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 6
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
01.02.2000
Количество страниц оригинала
28