Химический анализ поверхности. Электронная Оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results Analyse chimique
Основные сведения
Статус
Заменен
Количество страниц
20
Подробная информация
Обозначение
ISO 20903:2006
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Электронная Оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results Analyse chimique
