Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 32
Область применения
Эта часть ISO 14880 определяет методы тестирования аберраций волнового фронта для микролинз в матрицах микролинз. Он применим для матриц микролинз с очень маленькими линзами, образованными внутри или на одной или более поверхностях общей подложки.
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 14880-2:2006
- Обозначение
- ISO 14880-2:2006
- Обозначение
- ISO 14880-2:2006
- Статус
- Заменен
- Статус
- Заменен
- Статус
- Заменен
- Вид стандарта
- ST
- Вид стандарта
- ST
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2: Методы определения аберрации волнового фронта
- Заглавие на русском языке
- Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2: Методы определения аберрации волнового фронта
- Заглавие на русском языке
- Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2: Методы определения аберрации волнового фронта
- Заглавие на английском языке
- Optics and photonics -- Microlens arrays -- Part 2: Test methods for wavefront aberrations
- Заглавие на английском языке
- Optics and photonics -- Microlens arrays -- Part 2: Test methods for wavefront aberrations
- Заглавие на английском языке
- Optics and photonics -- Microlens arrays -- Part 2: Test methods for wavefront aberrations
- Дата отмены
- 13.11.2024 01:00:00
- Дата отмены
- 13.11.2024 01:00:00
- Дата отмены
- 13.11.2024 01:00:00
- Код КС (ОКС, МКС)
- 31.260
- Код КС (ОКС, МКС)
- 31.260
- Код КС (ОКС, МКС)
- 31.260
- Обозначение заменяющего
- ISO 14880-2:2024
- Обозначение заменяющего
- ISO 14880-2:2024
- Обозначение заменяющего
- ISO 14880-2:2024
- ТК – разработчик стандарта
- TC 172/SC 9
- ТК – разработчик стандарта
- TC 172/SC 9
- ТК – разработчик стандарта
- TC 172/SC 9
- Язык оригинала
- английский
- Язык оригинала
- английский
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 1
- Номер издания
- 1
- Номер издания
- 1
- Дата опубликования
- 30.01.2006
- Дата опубликования
- 30.01.2006
- Дата опубликования
- 30.01.2006
- Количество страниц оригинала
- 32
- Количество страниц оригинала
- 32
- Количество страниц оригинала
- 32
- Аннотация (область применения)
- Эта часть ISO 14880 определяет методы тестирования аберраций волнового фронта для микролинз в матрицах микролинз. Он применим для матриц микролинз с очень маленькими линзами, образованными внутри или на одной или более поверхностях общей подложки.
- Аннотация (область применения)
- Эта часть ISO 14880 определяет методы тестирования аберраций волнового фронта для микролинз в матрицах микролинз. Он применим для матриц микролинз с очень маленькими линзами, образованными внутри или на одной или более поверхностях общей подложки.
- Аннотация (область применения)
- Эта часть ISO 14880 определяет методы тестирования аберраций волнового фронта для микролинз в матрицах микролинз. Он применим для матриц микролинз с очень маленькими линзами, образованными внутри или на одной или более поверхностях общей подложки.
- Количество страниц перевода
- 32
- Количество страниц перевода
- 32
- Количество страниц перевода
- 32
- Код цены
- D
- Код цены
- D
- Код цены
- D
- Примечание
- Документ содержит цветные иллюстрации
- Примечание
- Документ содержит цветные иллюстрации
- Примечание
- Документ содержит цветные иллюстрации