Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 12
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 15632:2002
- Статус
- Заменен
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами
- Заглавие на английском языке
- Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
- Дата отмены
- 31.07.2012 00:00:00
- Наличие терминов РОСТЕРМ
- 1
- Код КС (ОКС, МКС)
- 37.020; 71.040.99
- Обозначение заменяющего
- ISO 15632:2012
- ТК – разработчик стандарта
- TC 202
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 1
- Дата опубликования
- 05.12.2002
- Количество страниц оригинала
- 12