Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 20
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 14606:2000
- Статус
- Заменен
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов
- Заглавие на английском языке
- Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
- Дата отмены
- 01.12.2015 01:00:00
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.40
- Обозначение заменяющего
- ISO 14606:2015
- ТК – разработчик стандарта
- TC 201/SC 4
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 1
- Дата опубликования
- 01.10.2000
- Количество страниц оригинала
- 20
- Код цены
- C