ISO

ISO 17470:2004

Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
18

Подробная информация

Обозначение
ISO 17470:2004
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Дата отмены
06.01.2014 01:00:00
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.99
Обозначение заменяющего
ISO 17470:2014
ТК – разработчик стандарта
TC 202/SC 2
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
20.09.2004
Количество страниц оригинала
18