Химический анализ поверхности. Электронная спекроскопия Оже и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию определенной экспериментальным путем относительной чувствительности прибора для качественного анализа однородных материалов
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Основные сведения
Статус
Заменен
Количество страниц
30
Подробная информация
Обозначение
ISO 18118:2004
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Электронная спекроскопия Оже и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию определенной экспериментальным путем относительной чувствительности прибора для качественного анализа однородных материалов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
