ISO

ISO 23830:2008

Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
20

Подробная информация

Обозначение
ISO 23830:2008
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 6
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
05.11.2008
Количество страниц оригинала
20
Код цены
B