ISO

ISO 23812:2009

Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки глубины для кремния с помощью многослойных дельта-эталонных материалов

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
26

Подробная информация

Обозначение
ISO 23812:2009
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки глубины для кремния с помощью многослойных дельта-эталонных материалов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 6
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
08.04.2009
Количество страниц оригинала
26
Код цены
D