ISO

ISO 24173:2009

Микроанализ электронно-зондовый. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратнорассеянных электронов

Microbeam analysis -- Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
50

Подробная информация

Обозначение
ISO 24173:2009
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Микроанализ электронно-зондовый. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратнорассеянных электронов
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis -- Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Дата отмены
09.02.2024 01:00:00
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.50
Обозначение заменяющего
ISO 24173:2024
ТК – разработчик стандарта
TC 202
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
14.09.2009
Количество страниц оригинала
50
Код цены
F