ISO

ISO 14237:2010

Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
26

Подробная информация

Обозначение
ISO 14237:2010
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 14237:2000
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 6
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
09.07.2010
Количество страниц оригинала
26
Код цены
D