ISO

ISO 10810:2010

Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Guidelines for analysis

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
34

Подробная информация

Обозначение
ISO 10810:2010
Обозначение
ISO 10810:2010
Обозначение
ISO 10810:2010
Статус
Заменен
Статус
Заменен
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Вид стандарта
ST
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Guidelines for analysis
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Guidelines for analysis
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Guidelines for analysis
Дата отмены
22.08.2019 00:00:00
Дата отмены
22.08.2019 00:00:00
Дата отмены
22.08.2019 00:00:00
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяющего
ISO 10810:2019
Обозначение заменяющего
ISO 10810:2019
Обозначение заменяющего
ISO 10810:2019
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 7
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 7
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 7
Язык оригинала
английский
Язык оригинала
английский
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Номер издания
1
Номер издания
1
Дата опубликования
16.11.2010
Дата опубликования
16.11.2010
Дата опубликования
16.11.2010
Количество страниц оригинала
34
Количество страниц оригинала
34
Количество страниц оригинала
34
Количество страниц перевода
39
Количество страниц перевода
39
Количество страниц перевода
39
Код цены
E
Код цены
E
Код цены
E