- Обозначение
- ISO 14701:2011
- Обозначение
- ISO 14701:2011
- Обозначение
- ISO 14701:2011
- Статус
- Заменен
- Статус
- Заменен
- Статус
- Заменен
- Вид стандарта
- ST
- Вид стандарта
- ST
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
- Заглавие на русском языке
- Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
- Заглавие на русском языке
- Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
- Заглавие на английском языке
- Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness
- Заглавие на английском языке
- Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness
- Заглавие на английском языке
- Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness
- Дата отмены
- 31.10.2018 01:00:00
- Дата отмены
- 31.10.2018 01:00:00
- Дата отмены
- 31.10.2018 01:00:00
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.40
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.40
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.40
- Обозначение заменяющего
- ISO 14701:2018
- Обозначение заменяющего
- ISO 14701:2018
- Обозначение заменяющего
- ISO 14701:2018
- ТК – разработчик стандарта
- TC 201/SC 7
- ТК – разработчик стандарта
- TC 201/SC 7
- ТК – разработчик стандарта
- TC 201/SC 7
- Язык оригинала
- английский
- Язык оригинала
- английский
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 1
- Номер издания
- 1
- Номер издания
- 1
- Дата опубликования
- 02.08.2011
- Дата опубликования
- 02.08.2011
- Дата опубликования
- 02.08.2011
- Количество страниц оригинала
- 17
- Количество страниц оригинала
- 17
- Количество страниц оригинала
- 17
- Количество страниц перевода
- 23
- Количество страниц перевода
- 23
- Количество страниц перевода
- 23
- Код цены
- C
- Код цены
- C
- Код цены
- C
