Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 26
Область применения
Настоящий международный стандарт описывает методы измерения среднего размера зерна (кристаллита) на двумерных полированных шлифах с помощью дифракции отраженных электронов (ДОЭ=EBSD). Этот метод используется для определения ориентации, разориентации и коэффициента качества изображения как функции структурной локализации кристаллического образца [1]. ПРИМЕЧАНИЕ 1 Тогда как традиционные методы определения размера зерна (кристаллита) с помощью оптического микроскопа уже хорошо отработаны, методы ДОЭ предлагают ряд преимуществ над старыми методами, включая улучшенную пространственную разрешающую способность и количественное описание ориентации кристаллитов. ПРИМЕЧАНИЕ 2 Этот метод также годится для измерения размера кристаллита материалов сложного строения, например, материалов со значительным содержанием двухфазной микроструктуры. ПРИМЕЧАНИЕ 3 Необходимо предупредить пользователя об осторожной интерпретации результатов при попытке исследования образцов с высоким уровнем деформации
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 13067:2011
- Обозначение
- ISO 13067:2011
- Обозначение
- ISO 13067:2011
- Статус
- Заменен
- Статус
- Заменен
- Статус
- Заменен
- Вид стандарта
- ST
- Вид стандарта
- ST
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна
- Заглавие на русском языке
- Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна
- Заглавие на русском языке
- Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна
- Заглавие на английском языке
- Microbeam analysis -- Electron backscatter diffraction -- Measurement of average grain size
- Заглавие на английском языке
- Microbeam analysis -- Electron backscatter diffraction -- Measurement of average grain size
- Заглавие на английском языке
- Microbeam analysis -- Electron backscatter diffraction -- Measurement of average grain size
- Дата отмены
- 15.07.2020 00:00:00
- Дата отмены
- 15.07.2020 00:00:00
- Дата отмены
- 15.07.2020 00:00:00
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.50
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.50
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.50
- Обозначение заменяющего
- ISO 13067:2020
- Обозначение заменяющего
- ISO 13067:2020
- Обозначение заменяющего
- ISO 13067:2020
- ТК – разработчик стандарта
- TC 202
- ТК – разработчик стандарта
- TC 202
- ТК – разработчик стандарта
- TC 202
- Язык оригинала
- английский
- Язык оригинала
- английский
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 1
- Номер издания
- 1
- Номер издания
- 1
- Дата опубликования
- 28.10.2011
- Дата опубликования
- 28.10.2011
- Дата опубликования
- 28.10.2011
- Количество страниц оригинала
- 26
- Количество страниц оригинала
- 26
- Количество страниц оригинала
- 26
- Аннотация (область применения)
- Настоящий международный стандарт описывает методы измерения среднего размера зерна (кристаллита) на двумерных полированных шлифах с помощью дифракции отраженных электронов (ДОЭ=EBSD). Этот метод используется для определения ориентации, разориентации и коэффициента качества изображения как функции структурной локализации кристаллического образца [1]. ПРИМЕЧАНИЕ 1 Тогда как традиционные методы определения размера зерна (кристаллита) с помощью оптического микроскопа уже хорошо отработаны, методы ДОЭ предлагают ряд преимуществ над старыми методами, включая улучшенную пространственную разрешающую способность и количественное описание ориентации кристаллитов. ПРИМЕЧАНИЕ 2 Этот метод также годится для измерения размера кристаллита материалов сложного строения, например, материалов со значительным содержанием двухфазной микроструктуры. ПРИМЕЧАНИЕ 3 Необходимо предупредить пользователя об осторожной интерпретации результатов при попытке исследования образцов с высоким уровнем деформации
- Аннотация (область применения)
- Настоящий международный стандарт описывает методы измерения среднего размера зерна (кристаллита) на двумерных полированных шлифах с помощью дифракции отраженных электронов (ДОЭ=EBSD). Этот метод используется для определения ориентации, разориентации и коэффициента качества изображения как функции структурной локализации кристаллического образца [1]. ПРИМЕЧАНИЕ 1 Тогда как традиционные методы определения размера зерна (кристаллита) с помощью оптического микроскопа уже хорошо отработаны, методы ДОЭ предлагают ряд преимуществ над старыми методами, включая улучшенную пространственную разрешающую способность и количественное описание ориентации кристаллитов. ПРИМЕЧАНИЕ 2 Этот метод также годится для измерения размера кристаллита материалов сложного строения, например, материалов со значительным содержанием двухфазной микроструктуры. ПРИМЕЧАНИЕ 3 Необходимо предупредить пользователя об осторожной интерпретации результатов при попытке исследования образцов с высоким уровнем деформации
- Аннотация (область применения)
- Настоящий международный стандарт описывает методы измерения среднего размера зерна (кристаллита) на двумерных полированных шлифах с помощью дифракции отраженных электронов (ДОЭ=EBSD). Этот метод используется для определения ориентации, разориентации и коэффициента качества изображения как функции структурной локализации кристаллического образца [1]. ПРИМЕЧАНИЕ 1 Тогда как традиционные методы определения размера зерна (кристаллита) с помощью оптического микроскопа уже хорошо отработаны, методы ДОЭ предлагают ряд преимуществ над старыми методами, включая улучшенную пространственную разрешающую способность и количественное описание ориентации кристаллитов. ПРИМЕЧАНИЕ 2 Этот метод также годится для измерения размера кристаллита материалов сложного строения, например, материалов со значительным содержанием двухфазной микроструктуры. ПРИМЕЧАНИЕ 3 Необходимо предупредить пользователя об осторожной интерпретации результатов при попытке исследования образцов с высоким уровнем деформации
- Количество страниц перевода
- 28
- Количество страниц перевода
- 28
- Количество страниц перевода
- 28
- Код цены
- C
- Код цены
- C
- Код цены
- C