ISO

ISO 16243:2011

Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

Surface chemical analysis -- Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
16

Подробная информация

Обозначение
ISO 16243:2011
Обозначение
ISO 16243:2011
Обозначение
ISO 16243:2011
Статус
Действует
Статус
Действует
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Вид стандарта
ST
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 2
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 2
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 2
Язык оригинала
английский
Язык оригинала
английский
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Номер издания
1
Номер издания
1
Дата опубликования
24.11.2011
Дата опубликования
24.11.2011
Дата опубликования
24.11.2011
Количество страниц оригинала
16
Количество страниц оригинала
16
Количество страниц оригинала
16
Количество страниц перевода
17
Количество страниц перевода
17
Количество страниц перевода
17
Код цены
B
Код цены
B
Код цены
B