ISO

ISO 11505:2012

Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом

Surface chemical analysis -- General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
38

Подробная информация

Обозначение
ISO 11505:2012
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Дата отмены
19.06.2025 00:00:00
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяющего
ISO 11505:2025
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 8
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
12.12.2012
Количество страниц оригинала
38
Код цены
E