ISO

ISO 17862:2013

Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов

Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
32

Подробная информация

Обозначение
ISO 17862:2013
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Дата отмены
23.09.2022 00:00:00
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяющего
ISO 17862:2022
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 6
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
10.12.2013
Количество страниц оригинала
32
Код цены
D