ISO

ISO 22493:2014

Анализ с использованием микропучка. Растровая электронная микроскопия. Словарь

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
28

Подробная информация

Обозначение
ISO 22493:2014
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Анализ с использованием микропучка. Растровая электронная микроскопия. Словарь
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary
Код КС (ОКС, МКС)
01.040.37; 37.020
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 22493:2008
ТК – разработчик стандарта
TC 202/SC 1
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
09.04.2014
Количество страниц оригинала
28
Код цены
D