ISO

ISO 14706:2014

Химический анализ поверхности. Определение загрязнения химическими элементами поверхности кремниевых пластин методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF)

Surface chemical analysis -- Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
32

Подробная информация

Обозначение
ISO 14706:2014
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Определение загрязнения химическими элементами поверхности кремниевых пластин методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF)
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 14706:2000
ТК – разработчик стандарта
TC 201
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
25.07.2014
Количество страниц оригинала
32
Код цены
D