ISO

ISO 19830:2015

Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
30

Подробная информация

Обозначение
ISO 19830:2015
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 7
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
05.11.2015
Количество страниц оригинала
30
Код цены
D