ISO

ISO 14606:2015

Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
24

Подробная информация

Обозначение
ISO 14606:2015
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Дата отмены
21.11.2022 01:00:00
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 14606:2000
Обозначение заменяющего
ISO 14606:2022
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 4
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
01.12.2015
Количество страниц оригинала
24
Код цены
C