ISO 14997:2017

Подробная информация

Обозначение

ISO 14997:2017

Обозначение

ISO 14997:2017

Обозначение

ISO 14997:2017

Статус

Действует

Статус

Действует

Статус

Действует

Вид стандарта

ST

Вид стандарта

ST

Вид стандарта

ST

Заглавие на русском языке

Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов

Заглавие на русском языке

Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов

Заглавие на русском языке

Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов

Заглавие на английском языке

Optics and photonics -- Test methods for surface imperfections of optical elements

Заглавие на английском языке

Optics and photonics -- Test methods for surface imperfections of optical elements

Заглавие на английском языке

Optics and photonics -- Test methods for surface imperfections of optical elements

Код КС (ОКС, МКС)

37.020

Код КС (ОКС, МКС)

37.020

Код КС (ОКС, МКС)

37.020

Обозначение заменяемого(ых)

ISO 14997:2011

Обозначение заменяемого(ых)

ISO 14997:2011

Обозначение заменяемого(ых)

ISO 14997:2011

ТК – разработчик стандарта

TC 172/SC 1

ТК – разработчик стандарта

TC 172/SC 1

ТК – разработчик стандарта

TC 172/SC 1

Язык оригинала

английский

Язык оригинала

английский

Язык оригинала

английский

Номер издания

3

Номер издания

3

Номер издания

3

Дата опубликования

16.08.2017

Дата опубликования

16.08.2017

Дата опубликования

16.08.2017

Количество страниц оригинала

22

Количество страниц оригинала

22

Количество страниц оригинала

22

Аннотация (область применения)

В настоящем документе определены физические принципы и практические средства реализации методов контроля поверхностных дефектов. Для визуальных методов контроля видимости дефектов применяют два метода контроля. Первый – это визуальная оценка поверхности без какого-либо сравнения с артефактами специальных эталонов – метод (IVv). Второй, это визуальная оценка дефектов поверхности при сравнении с артефактами специальных эталонов известной яркости – метод (ISv). К методам определения размеров дефектов, относятся три метода. Первый – это визуальная оценка поверхности без сравнения со стандартными объектами - метод (IVD). Второй – это оценка размеров дефектов поверхности при сравнении с артефактами известного размера - метод (ISD). Третий – это измерение размеров дефекта поверхности с помощью увеличения и либо сравнение с артефактом известного размера, либо используя сетки или линейки - метод (IMD). Существуют приборы, позволяющие объективно измерять яркость (цифровое измерение интенсивности рассеянного света) или размер (цифровая микроскопия). Хотя эти инструменты могут быть использованы для оценки поверхностных дефектов, их описание и применение выходят за рамки настоящего документа. Этот документ применяется к оптическим поверхностям оптических компонентов или сборок, таких как дублеты или триплеты. Этот документ может быть применен к оптическим пластиковым компонентам; однако ударное повреждение на изделиях из пластмассовых материалов часто выглядит совсем иначе, чем на более твердых материалах, поскольку ударное воздействие не всегда приводит к удалению материала, но вместо этого может смещать материал, вызывая волнообразный дефект на поверхности. Следовательно, визуальное сравнение царапин и точек на пластике и на стекле или кристаллическом материале может дать очень разные результаты

Аннотация (область применения)

В настоящем документе определены физические принципы и практические средства реализации методов контроля поверхностных дефектов. Для визуальных методов контроля видимости дефектов применяют два метода контроля. Первый – это визуальная оценка поверхности без какого-либо сравнения с артефактами специальных эталонов – метод (IVv). Второй, это визуальная оценка дефектов поверхности при сравнении с артефактами специальных эталонов известной яркости – метод (ISv). К методам определения размеров дефектов, относятся три метода. Первый – это визуальная оценка поверхности без сравнения со стандартными объектами - метод (IVD). Второй – это оценка размеров дефектов поверхности при сравнении с артефактами известного размера - метод (ISD). Третий – это измерение размеров дефекта поверхности с помощью увеличения и либо сравнение с артефактом известного размера, либо используя сетки или линейки - метод (IMD). Существуют приборы, позволяющие объективно измерять яркость (цифровое измерение интенсивности рассеянного света) или размер (цифровая микроскопия). Хотя эти инструменты могут быть использованы для оценки поверхностных дефектов, их описание и применение выходят за рамки настоящего документа. Этот документ применяется к оптическим поверхностям оптических компонентов или сборок, таких как дублеты или триплеты. Этот документ может быть применен к оптическим пластиковым компонентам; однако ударное повреждение на изделиях из пластмассовых материалов часто выглядит совсем иначе, чем на более твердых материалах, поскольку ударное воздействие не всегда приводит к удалению материала, но вместо этого может смещать материал, вызывая волнообразный дефект на поверхности. Следовательно, визуальное сравнение царапин и точек на пластике и на стекле или кристаллическом материале может дать очень разные результаты

Аннотация (область применения)

В настоящем документе определены физические принципы и практические средства реализации методов контроля поверхностных дефектов. Для визуальных методов контроля видимости дефектов применяют два метода контроля. Первый – это визуальная оценка поверхности без какого-либо сравнения с артефактами специальных эталонов – метод (IVv). Второй, это визуальная оценка дефектов поверхности при сравнении с артефактами специальных эталонов известной яркости – метод (ISv). К методам определения размеров дефектов, относятся три метода. Первый – это визуальная оценка поверхности без сравнения со стандартными объектами - метод (IVD). Второй – это оценка размеров дефектов поверхности при сравнении с артефактами известного размера - метод (ISD). Третий – это измерение размеров дефекта поверхности с помощью увеличения и либо сравнение с артефактом известного размера, либо используя сетки или линейки - метод (IMD). Существуют приборы, позволяющие объективно измерять яркость (цифровое измерение интенсивности рассеянного света) или размер (цифровая микроскопия). Хотя эти инструменты могут быть использованы для оценки поверхностных дефектов, их описание и применение выходят за рамки настоящего документа. Этот документ применяется к оптическим поверхностям оптических компонентов или сборок, таких как дублеты или триплеты. Этот документ может быть применен к оптическим пластиковым компонентам; однако ударное повреждение на изделиях из пластмассовых материалов часто выглядит совсем иначе, чем на более твердых материалах, поскольку ударное воздействие не всегда приводит к удалению материала, но вместо этого может смещать материал, вызывая волнообразный дефект на поверхности. Следовательно, визуальное сравнение царапин и точек на пластике и на стекле или кристаллическом материале может дать очень разные результаты

Количество страниц перевода

21

Количество страниц перевода

21

Количество страниц перевода

21

Код цены

C

Код цены

C

Код цены

C