ISO

ISO 20263:2017

Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела в изображении поперечного сечения слоистых материалов

Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
52

Подробная информация

Обозначение
ISO 20263:2017
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела в изображении поперечного сечения слоистых материалов
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Дата отмены
06.11.2024 01:00:00
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.50; 37.020
Обозначение заменяющего
ISO 20263:2024
ТК – разработчик стандарта
TC 202/SC 3
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
01.12.2017
Количество страниц оригинала
52
Код цены
F