Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 24
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 14701:2018
- Статус
- Действует
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины диоксида кремния
- Заглавие на английском языке
- Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.40
- Обозначение заменяемого(ых)
- ISO 14701:2011
- ТК – разработчик стандарта
- TC 201/SC 7
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 2
- Дата опубликования
- 31.10.2018
- Количество страниц оригинала
- 24
- Код цены
- C