ISO

ISO 20903:2019

Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
24

Подробная информация

Обозначение
ISO 20903:2019
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 20903:2011
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 7
Язык оригинала
английский
Номер издания
3
Дата опубликования
13.02.2019
Количество страниц оригинала
24
Код цены
C
Примечание
Документ содержит цветные иллюстрации