Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 38
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 22415:2019
- Статус
- Действует
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов
- Заглавие на английском языке
- Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.40
- ТК – разработчик стандарта
- TC 201/SC 6
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 1
- Дата опубликования
- 10.05.2019
- Количество страниц оригинала
- 38
- Код цены
- E
- Примечание
- Документ содержит цветные иллюстрации