ISO

ISO 11952:2019

Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
70

Подробная информация

Обозначение
ISO 11952:2019
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 11952:2014
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 9
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
21.05.2019
Количество страниц оригинала
70
Код цены
G