ISO

ISO 21466:2019

Микроанализ электронно-зондовый. Растровая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM

Microbeam analysis Scanning electron microscopy Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
54

Подробная информация

Обозначение
ISO 21466:2019
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Микроанализ электронно-зондовый. Растровая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis Scanning electron microscopy Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM
Код КС (ОКС, МКС)
37.020
ТК – разработчик стандарта
TC 202/SC 4
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
13.12.2019
Количество страниц оригинала
54
Код цены
F