ISO

ISO 21222:2020

Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Методика определения модуля упругости гибких материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода Джонсона-Кендалла-Робертса (JKR)

Surface chemical analysis Scanning probe microscopy Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
24

Подробная информация

Обозначение
ISO 21222:2020
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Методика определения модуля упругости гибких материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода Джонсона-Кендалла-Робертса (JKR)
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis Scanning probe microscopy Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 9
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
29.01.2020
Количество страниц оригинала
24
Код цены
C
Примечание
Документ содержит цветные иллюстрации