ISO

ISO 16413:2020

Оценка толщины, плотности и ширины поверхности раздела тонких пленок с помощью рентгеновской рефлектометрии. Инструментальные требования, выравнивание и позиционирование, сбор, анализ и представление данных

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
40

Подробная информация

Обозначение
ISO 16413:2020
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Оценка толщины, плотности и ширины поверхности раздела тонких пленок с помощью рентгеновской рефлектометрии. Инструментальные требования, выравнивание и позиционирование, сбор, анализ и представление данных
Заглавие на английском языке
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
Код КС (ОКС, МКС)
35.240.70; 71.040.40
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 16413:2013
ТК – разработчик стандарта
TC 201
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
14.08.2020
Количество страниц оригинала
40
Код цены
E
Примечание
Документ содержит цветные иллюстрации