Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 26
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 16531:2020
- Статус
- Действует
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования глубины в AES и XPS
- Заглавие на английском языке
- Surface chemical analysis Depth profiling Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
- Код КС (ОКС, МКС)
- 71.040.40
- Обозначение заменяемого(ых)
- ISO 16531:2013
- ТК – разработчик стандарта
- TC 201/SC 4
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 2
- Дата опубликования
- 05.10.2020
- Количество страниц оригинала
- 26
- Код цены
- D