ISO

ISO 20263:2024

Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов

Microbeam analysis Analytical electron microscopy Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
54

Подробная информация

Обозначение
ISO 20263:2024
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis Analytical electron microscopy Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Код КС (ОКС, МКС)
37.020; 71.040.50
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 20263:2017
ТК – разработчик стандарта
TC 202/SC 3
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
06.11.2024
Количество страниц оригинала
54
Код цены
F