Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 24
Подробная информация
- Обозначение
- ISO 17297:2025
- Статус
- Действует
- Вид стандарта
- ST
- Заглавие на русском языке
- Анализ с использованием микропучка. Применение сфокусированного ионного пучка для подготовки образцов для TEM. Словарь
- Заглавие на английском языке
- Microbeam analysis Focused ion beam application for TEM specimen preparation Vocabulary
- Код КС (ОКС, МКС)
- 01.040.71; 71.040.50
- ТК – разработчик стандарта
- TC 202/SC 1
- Язык оригинала
- английский
- Номер издания
- 1
- Дата опубликования
- 26.05.2025
- Количество страниц оригинала
- 24
- Код цены
- C