ISO

ISO 11505:2025

Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом

Surface chemical analysis General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
42

Подробная информация

Обозначение
ISO 11505:2025
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Код КС (ОКС, МКС)
71.040.40
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 11505:2012
ТК – разработчик стандарта
TC 201/SC 8
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
19.06.2025
Количество страниц оригинала
42
Код цены
E