ISO

ISO 25387:2026

Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Методы определения точечного разрешения просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения

Microbeam analysis Analytical electron microscopy Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
60

Подробная информация

Обозначение
ISO 25387:2026
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Методы определения точечного разрешения просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis Analytical electron microscopy Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope
Код КС (ОКС, МКС)
37.020
ТК – разработчик стандарта
TC 202/SC 3
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
09.06.2026
Количество страниц оригинала
60
Код цены
G