Федеральный информационный фонд

Каталоги стандартов

Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.

Выберите каталог

IEC

Международные стандарты IEC

Документы Международной электротехнической комиссии.

Документов: 23 540

IEC/TR 62240-2(2018)Действует
Менеджмент процессов в авионике. Эксплуатационные характеристики электронных компонентов. Часть 2. Срок службы полупроводниковых микросхемProcess management for avionics – Electronic components capability in operation – Part 2: Semiconductor microcircuit lifetimeОткрыть карточку →
IEC/TR 62245(2002)Заменен
Волокна оптические. Методы измерения. Потери, вызванные кривизной для волокон типа А3 и А4Optical fibres. Measurement methods. Bend loss for A3 and A4 type fibresОткрыть карточку →
IEC/TR 62246-3(2018)Отменен
Герконы. Часть 3. Данные о надежности герконов в типичных приложениях безопасностиReed switches – Part 3: Reliability data for reed switch-devices in typical safety applicationsОткрыть карточку →
IEC/TR 62247(2003)Отменен
Атомные электростанции. Проектирование операторских помещений главного управления. Обзор использования IEC 60964 (1989)Nuclear power plants - Main control room design - A review of the application of IEC 60964 (1989)Открыть карточку →
IEC/TR 62248(2002)Отменен
Стандарты на тему автоматизации. Подходы к испытаниям на соответствие и сертификациюApproaches to conformance and certification testing for automation standardsОткрыть карточку →
IEC/TR 62251(2003)Действует
Мультимедийные системы и оборудование. Оценка качества. Системы аудио-видеосвязиMultimedia systems and equipment - Quality assessment - Audio-video communication systemsОткрыть карточку →
IEC/TR 62258-3(2005)Заменен
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 3. Рекомендации по загрузке и погрузке, упаковке и хранениюSemiconductor die products - Part 3: Recommendations for good practice in handling, packing and storageОткрыть карточку →
IEC/TR 62258-3(2010)Действует
Изделия с полупроводниковыми кристаллами. Часть 3. Рекомендации по установившейся практике обращения, упаковки и храненияSemiconductor die products - Part 3: Recommendations for good practice in handling, packing and storageОткрыть карточку →
IEC/TR 62258-4(2007)Заменен
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 4. Анкета для пользователей и поставщиков штамповSemiconductor die products - Part 4: Questionnaire for die users and suppliersОткрыть карточку →
IEC/TR 62258-4(2012)Действует
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 4. Анкета для пользователей и поставщиковSemiconductor die products - Part 4: Questionnaire for die users and suppliersОткрыть карточку →
IEC/TR 62258-7(2007)Действует
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 7. Схема XML для обмена даннымиSemiconductor die products - Part 7: XML schema for data exchangeОткрыть карточку →
IEC/TR 62258-8(2008)Действует
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 8. Схема модели EXPRESS для обмена даннымиSemiconductor die products - Part 8: EXPRESS model schema for data exchangeОткрыть карточку →