Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60190(1966)Отменен
Потенциометры непроволочные типа 2Non-wirewound potentiometers Type 2Открыть карточку →IEC 60191-1(1966)Заменен
Стандартизаций конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1: Подготовка чертежей полупроводниковых приборовMechanical standardization of semiconductor devices. Part 1 : Preparation of drawings of semiconductor devicesОткрыть карточку →IEC 60191-1(2007)Заменен
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки габаритных чертежей дискретных компонентовMechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devicesОткрыть карточку →IEC 60191-1(2007)Заменен
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки габаритных чертежей дискретных компонентовMechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devicesОткрыть карточку →IEC 60191-1(2018)Действует
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки контурных чертежей дискретных приборовMechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devicesОткрыть карточку →IEC 60191-1A(1969)Заменен
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки габаритных чертежей дискретных компонентов. 1-е дополнениеMechanical standardization of semiconductor devices. Part 1 : Preparation of drawings of semiconductor devicesОткрыть карточку →IEC 60191-1B(1970)Заменен
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки габаритных чертежей дискретных компонентов. 2-е дополнениеMechanical standardization of semiconductor devices. Part 1 : Preparation of drawings of semiconductor devicesОткрыть карточку →IEC 60191-1C(1974)Заменен
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки габаритных чертежей дискретных компонентов. 3-е дополнениеMechanical standardization of semiconductor devices. Part 1 : Preparation of drawings of semiconductor devicesОткрыть карточку →IEC 60191-2(1966)Действует
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. РазмерыMechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. DimensionsОткрыть карточку →IEC 60191-2(1966)/Amd.10(2004)Действует
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 10Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 10Открыть карточку →IEC 60191-2(1966)/Amd.11(2004)Действует
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 11Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 11Открыть карточку →IEC 60191-2(1966)/Amd.1(2001)Действует
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 1Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 1Открыть карточку →