Федеральный информационный фонд

Каталоги стандартов

Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.

Выберите каталог

IEC

Международные стандарты IEC

Документы Международной электротехнической комиссии.

Документов: 23 540

IEC 60747-16-5(2013)/Amd.1(2020)/Cor.1(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 16-5. Интегральные СВЧ-схемы. Осцилляторы. Поправка 1Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators. Corrigendum 1Открыть карточку →
IEC 60747-16-5(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 16-5. Интегральные схемы СВЧ-диапазона. ОсцилляторыSemiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - OscillatorsОткрыть карточку →
IEC 60747-16-6(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 16-6. Интегральные схемы СВЧ-диапазона. Умножители частотыSemiconductor devices - Part 16-6: Microwave integrated circuits - Frequency multipliersОткрыть карточку →
IEC 60747-16-7(2022)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 16-7. Интегральные схемы СВЧ-диапазона. АттенюаторыSemiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - AttenuatorsОткрыть карточку →
IEC 60747-16-8(2022)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 16-8. Интегральные схемы СВЧ-диапазона. ОграничителиSemiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - LimitersОткрыть карточку →
IEC 60747-16-9(2024)Действует
Полупроводниковые приборы. Часть 16-9. Микроволновые интегральные схемы. ФазовращателиSemiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shiftersОткрыть карточку →
IEC 60747-17(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 17. Электромагнитная муфта и емкостной датчик для основной и усиленной изоляцииSemiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulationОткрыть карточку →
IEC 60747-17(2020)/Cor.1(2021)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 17. Электромагнитная муфта и емкостной датчик для основной и усиленной изоляции. Поправка 1Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation. Corrigendum 1Открыть карточку →
IEC 60747-18-1(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 18-1. Полупроводниковые биосенсоры. Метод испытания и анализ данных для калибровки безлинзовых CMOS фотонных матричных сенсоровSemiconductor devices - Part 18-1: Semiconductor bio sensors - Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensorsОткрыть карточку →
IEC 60747-18-2(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы. Часть 18-2. Полупроводниковые биосенсоры. Процесс оценки модулей безлинзовых CMOS фотонных матричных сенсорных блоковSemiconductor devices - Part 18-2: Semiconductor bio sensors - Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modulesОткрыть карточку →
IEC 60747-18-3(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 18-3. Полупроводниковые биосенсоры. Характеристики текучей среды модулей безлинзовых CMOS фотонных матричных сенсорных блоков с жидкостной системойSemiconductor devices - Part 18-3: Semiconductor bio sensors - Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic systemОткрыть карточку →
IEC 60747-18-4(2023)Действует
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы. Часть 18-4. Полупроводниковые биосенсоры. Метод оценки шумовых характеристик безлинзовых CMOS фотонных матричных сенсоровSemiconductor devices - Part 18-4: Semiconductor bio sensors - Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensorsОткрыть карточку →