Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60747-4-2(2000)Отменен
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы. Часть 4-2. Микроволновые диоды и транзисторы. Микроволновые усилители для интегральных схем. Форма частных технических условийSemiconductor devices. Discrete devices. Part 4-2. Microwave diodes and transistors. Integrated-circuit microwave amplifiers. Blank detail specificationОткрыть карточку →IEC 60747-5-10(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 5-10. Оптоэлектронные приборы. Светоизлучающие диоды. Метод определения внутренней квантовой эффективности на основе исходной точки при комнатной температуреSemiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference pointОткрыть карточку →IEC 60747-5-11(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 5-11. Оптоэлектронные приборы. Светоизлучающие диоды. Метод определения излучающего и неизлучающего токов светодиодовSemiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodesОткрыть карточку →IEC 60747-5-1(1997)Заменен
Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-1. Оптоэлектронные приборы. Общие положенияDiscrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices - GeneralОткрыть карточку →IEC 60747-5-1(1997)/Amd.1(2001)Заменен
Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-1. Оптоэлектронные приборы. Общие положения. Изменение 1Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-1. Optoelectronic devices. General. Amendment 1Открыть карточку →IEC 60747-5-1(1997)/Amd.2(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-1. Оптоэлектронные приборы. Общие положения. Изменение 2Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-1. Optoelectronic devices. General. Amendment 2Открыть карточку →IEC 60747-5-1(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-1. Оптоэлектронные приборы. Общие положенияDiscrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices - GeneralОткрыть карточку →IEC 60747-5-13(2021)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 5-13. Оптоэлектронные приборы. Светоизлучающие диоды. Испытание на сероводородную коррозию светодиодных сборокSemiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packagesОткрыть карточку →IEC 60747-5-13(2021)/Amd.1(2026)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 5-13. Оптоэлектронные приборы. Испытание светодиодных сборок на сероводородную коррозию. Изменение 1Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages. Amendment 1Открыть карточку →IEC 60747-5-13(2026)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 5-13. Оптоэлектронные приборы. Испытание светодиодных сборок на сероводородную коррозиюSemiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packagesОткрыть карточку →IEC 60747-5-14(2022)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 5-14. Оптоэлектронные приборы. Светоизлучающие диоды. Определение температуры поверхности методом термоотраженияSemiconductor devices - Part 5-14: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the surface temperature based on the thermoreflectance methodОткрыть карточку →IEC 60747-5-15(2022)Действует
Приборы полупроводниковые. Часть 5-15. Оптоэлектронные приборы. Светоизлучающие диоды. Определение напряжения, соответствующего плоским энергетическим зонам, методом спектроскопии электроотраженияSemiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopyОткрыть карточку →